日前，公司收到中国科学院上海科技查新资讯中心的科技项目咨询报告，我司委托查新的“60Gbps高速MEMS探针卡”课题被认定为综合技术达到了国内领先水平。
我司为了实现CP高速测试能力，从测试负载板、测试基板、MEMS探针等多个维度进行定制化设计以及加工，并针对性开发出特有的晶圆测试探针台，实现探针卡完整的仿真以及测试验证。
在MEMS探针方面，基于我司和国内研究所合作开发的特殊合金材料，经过特殊的半导体工艺处理，我司具备了MEMS探针的全定制开发能力。
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